產(chǎn)品樣本應(yīng)用文章
國外標(biāo)準(zhǔn) X射線法是由俄國學(xué)者于1929年提出。 20世紀(jì)初，人們就已經(jīng)開始利用X射線來測定晶體的應(yīng)力。 1961年，德國的E.Mchearauch提出了X射線應(yīng)力測定的sin2ψ法，使應(yīng)力測定的實(shí)際應(yīng)用向前推進(jìn)了一大步。 然而遺憾的是，隨著殘余應(yīng)力測試設(shè)備制造技術(shù)的快速發(fā)展，行業(yè)缺乏相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，缺少足夠的設(shè)備檢定技術(shù)依據(jù)，導(dǎo)致測試方法無所適從，各實(shí)驗(yàn)室很難進(jìn)行測試數(shù)據(jù)的比對和能力驗(yàn)證，很難具有公信力。 1971年，美國汽車工程師學(xué)會發(fā)布第一個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SAE J784a "Residential Stress Measurement by X-ray Diffraction"； 隨后1973年，日本材料學(xué)會頒布第一個(gè)國家標(biāo)準(zhǔn)JSMS-SD-10-73" Standard Method for X-ray Stress Measurement"。 為反映新技術(shù)進(jìn)步和成熟的測試方法，歐盟標(biāo)準(zhǔn)委員會(CEN)于2008年7月4日批準(zhǔn)了新的X射線衍射殘余應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn) EN 15305-2008"Non-destructive Testing- Test Method for Residual Stress analysis by X-ray Diffraction"，該標(biāo)準(zhǔn)于2009年2月底在所有歐盟成員國正式施行。 該標(biāo)準(zhǔn)對X射線殘余應(yīng)力測試的技術(shù)和方法等諸多方面進(jìn)行了更新，解決了上述的行業(yè)問題，全面、細(xì)致系統(tǒng)闡述了X射線衍射法殘余應(yīng)力分析的原理、測定方法、材料特性、儀器選擇和常見問題處理等方面的內(nèi)容。新標(biāo)準(zhǔn)也因此獲得了業(yè)界的一致認(rèn)可。 與之相呼應(yīng)，美國試驗(yàn)材料學(xué)會(ASTM)也于2010年7月發(fā)布了最新的美國標(biāo)準(zhǔn)版本ASTM E915-10 "Standard Test Method for Verifying the Alignment of X-ray Diffraction Instrumentation for Residual Stress Measurement"。 之后，歐美國家圍繞X射線衍射法，頒布了一系列檢測標(biāo)準(zhǔn)，為行業(yè)發(fā)展樹立了標(biāo)桿，X射線行射法測定殘余應(yīng)力得到了越來越廣泛的應(yīng)用，技術(shù)手段也日益成熟。 國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn) 縱觀國內(nèi)，我國最早的X射線應(yīng)力測定方法標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7704-1987，發(fā)布于1987年，其主要內(nèi)容采標(biāo)自日本標(biāo)準(zhǔn)。 受限于當(dāng)時(shí)的軟件水平、測試技術(shù)、探測器制造技術(shù)和數(shù)據(jù)采集技術(shù)，GB/T 7704-1987具有許多不足： 首先，其內(nèi)容相對簡單，術(shù)語和定義僅6條，定峰方法只有半高寬和拋物線兩種，整個(gè)標(biāo)準(zhǔn)只有7頁； 其次，其應(yīng)用范圍窄，僅適用于鐵素體鋼系和奧氏體鋼系某一給定方向的平面應(yīng)力； 另外，只能采用CrK α 和CrK β 射線源，采用計(jì)數(shù)管掃描尋峰，尋峰方式工作效率較低。 GB/T 7704-2008是GB/T 7704-1987的修訂版，經(jīng)過20 多年的發(fā)展，設(shè)備制造技術(shù)有了較大提升，方法也有了較大變化，當(dāng)時(shí)歐盟標(biāo)準(zhǔn)尚未發(fā)布，但SAE(美國汽車工程師協(xié)會)規(guī)范已能檢索到。考慮到國內(nèi)設(shè)備的實(shí)際情況，GB/T 7704-2008對設(shè)備并沒有提高要求，零應(yīng)力檢定仍然保持和GB/T7704-1987的相同，但是在術(shù)語定義、定峰方法、測試方法等方面作了擴(kuò)展。 GB/T 7704-1987及GB/T 7704-2008，其技術(shù)要求過于簡單，技術(shù)水平較低，主要根據(jù)當(dāng)時(shí)我國應(yīng)力測試設(shè)備的制造現(xiàn)狀而制定，無法及時(shí)和國際先進(jìn)技術(shù)同步。因此，2012年，在國家無損檢測標(biāo)委會的直接推動下，國家標(biāo)準(zhǔn)化委員會批復(fù)同意啟動了GB/T7704-2008的修訂工作。最終于2015年12月完成了標(biāo)準(zhǔn)的修訂工作，即現(xiàn)行的GB/T 7704-2017。 最新修訂的GB/T 7704中增加了大量術(shù)語和定義(三維應(yīng)力、設(shè)備、方法相關(guān))，使得過去一些含糊不清的描述表達(dá)變得規(guī)范化。為了使標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用更為廣泛，新國標(biāo)中增加了三維殘余應(yīng)力的理論計(jì)算方法以及具體測定流程，以幫助廣大X射線應(yīng)力測試工作者正確理解和執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)，為獲得比較可靠的試驗(yàn)結(jié)果提供了必要的理論解惑和技術(shù)支持。
X射線衍射儀用Schulz反射法進(jìn)行殘余奧氏體含量測量，在測量過程中，試樣表面與X射線的聚焦平面重合，而且試樣在測量的過程中固定不動，通過θ和2θ 軸的轉(zhuǎn)動(滿足Bragg方程)來完成測量，這時(shí)所測量的只是平行于試樣表面的那些晶面的衍射信息。 因此，影響XRD殘余奧氏體定量的最重要因素是晶粒的擇優(yōu)取向。以馬氏體的(200)晶面的衍射為例，如果晶粒雜亂無章分布，那么從統(tǒng)計(jì)學(xué)上不同位置處(200)晶面所占比例是一樣的；然而一旦存在擇優(yōu)取向，則不同位置處(200)所占的比例將不同，這樣在X射線衍射儀測量時(shí)，有的位置參與衍射的(200)晶面增多，導(dǎo)致測量的(200)衍射峰的強(qiáng)度增加；而有的位置參與衍射的(200)晶面減少，導(dǎo)致測得的(200)衍射峰的強(qiáng)強(qiáng)度減弱。 而殘余奧氏體含量測量的標(biāo)準(zhǔn)《YB/T 5338—2006鋼中殘余奧氏體定量測定 X射線衍射儀法》是根據(jù)所測得的馬氏體、奧氏體衍射峰的強(qiáng)度比值進(jìn)行計(jì)算的，這樣在殘余奧氏體含量的真實(shí)值不變的前提下，由于擇優(yōu)取向引起衍射峰強(qiáng)度改變，導(dǎo)致殘余奧氏體的測量值(計(jì)算值)會與實(shí)際值差別很大，或者說存在較大的誤差。 通常，由于受樣品表面狀況、晶粒取向、儀器參數(shù)等因素的影響，實(shí)際測量的衍射峰強(qiáng)度與理論值會存在一定的偏差�？紤]到這個(gè)因素，YB/T5338-2006標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：在利用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行殘余奧氏體含量計(jì)算時(shí)，馬氏體或奧氏體衍射峰的實(shí)測強(qiáng)度比與理論強(qiáng)度比允許波動的相對范圍為±30%，即實(shí)測值和理論值偏差小于30%時(shí)可以采用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行殘余奧氏體含量的測量。
所謂三強(qiáng)線是指比對純物質(zhì)最強(qiáng)的三根衍射峰位置，如果三強(qiáng)線位置比對成功，一般而言可以初步判定該種物質(zhì)的存在，具體的說，三強(qiáng)線指得是PDF卡片上最強(qiáng)的三個(gè)衍射峰的值。 以NaCl為例，參考05-0628，最強(qiáng)的三峰是： 200面：d= 2.82100 強(qiáng)度 100.0； 220面：d=1.99400 強(qiáng)度 55.0 222面：d=1.62800 強(qiáng)度 15.0 檢索的時(shí)候，先看實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)里有沒有200晶面的衍射峰。如果有，則繼續(xù)找 220的，如果沒有則不用再找了，這說明試樣中不含有 NaCl。當(dāng)這三個(gè)強(qiáng)峰都有的時(shí)候，就是符合三強(qiáng)峰原則。
磁彈技術(shù)是在1919年發(fā)現(xiàn)的一種物理現(xiàn)象的基礎(chǔ)上發(fā)展而來的。 鐵磁性材料是由許多小的像條型磁鐵狀的磁性區(qū)域組成的，這種磁性區(qū)域叫做磁疇；每個(gè)區(qū)域內(nèi)部包含大量原子，這些原子的磁矩都像一個(gè)個(gè)小磁鐵那樣整齊排列，但相鄰的不同區(qū)域之間原子磁矩排列的方向不同。各個(gè)磁疇之間的交界面稱為磁疇壁。磁場會引起磁疇壁來回的移動，當(dāng)磁疇的一側(cè)磁疇壁收縮而另一側(cè)的磁疇壁增長時(shí)會導(dǎo)致磁疇有序的移動。磁疇的變化會使磁化總量發(fā)生改變。 用電磁線圈靠近樣品，磁疇壁移動時(shí)產(chǎn)生的磁變化量會使線圈中產(chǎn)生一個(gè)脈沖電流。1919年巴克豪森教授首先發(fā)現(xiàn)了這一現(xiàn)象。他證明了這種磁化進(jìn)程，并用磁滯曲線的形式描繪了出來。事實(shí)上這個(gè)曲線并不是連續(xù)的，是由外磁場導(dǎo)致磁疇移動而產(chǎn)生的許多小的、突然的步驟組合而成。當(dāng)由磁疇運(yùn)動而產(chǎn)生的電流脈沖疊加到一起時(shí)，一種像噪聲一樣的信號就產(chǎn)生了，這就是巴克豪森信號。 大多數(shù)材料中巴克豪森信號的功率譜從磁化頻率開始可達(dá)到250kHz。在材料內(nèi)部傳遞時(shí)巴克豪森信號的衰減是指數(shù)級的，主要取決于由磁疇壁移動產(chǎn)生的電磁場所生成的渦電流的衰減程度。衰減范圍決定了可獲取信息的位置深度（測量深度）。影響深度的主要因素有： ? 噪聲信號可分析的頻率范圍 ? 被測材料的可導(dǎo)性和滲透性 實(shí)際應(yīng)用中測量深度一般在0.01到1.5毫米之間。 兩種重要的材料特性會極大的影響巴克豪森信號的強(qiáng)度。 利用巴克豪森信號的磁彈法在實(shí)際應(yīng)用中可以分為三類： 1、評估殘余應(yīng)力，提供微觀組織結(jié)構(gòu)變化的情況并進(jìn)行相應(yīng)控制。 2、評估微觀組織結(jié)構(gòu)變化情況，提供應(yīng)力等級并進(jìn)行相應(yīng)控制。 3、檢測含有應(yīng)力、微觀組織結(jié)構(gòu)變化的缺陷。 巴克豪森法殘余應(yīng)力檢測儀可以對材料的殘余應(yīng)力分布進(jìn)行快速檢測和鑒別。作為X射線衍射法的補(bǔ)充，對大量樣品的快速鑒別效率極高，GNR公司現(xiàn)已推出MagStress5c 巴克豪森應(yīng)力檢測儀。
零件淬火后總是會多多少少的留出一些未轉(zhuǎn)換的殘余奧氏體。太多的殘余奧氏體對零件的使用期限和強(qiáng)度不好，會導(dǎo)致軟點(diǎn)和規(guī)格的多變性，但適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體能夠提升零件的疲勞強(qiáng)度。我們可以經(jīng)過控制殘余奧氏體來控制產(chǎn)品品質(zhì)和使用期限，以做到預(yù)期目標(biāo)。 1. 殘余奧氏體對各種零件的影響 （1）滾動軸承規(guī)定有優(yōu)良的耐磨性能、高的翻轉(zhuǎn)疲勞強(qiáng)度合好的外形尺寸精密度可靠性，在常見應(yīng)力水準(zhǔn)下殘余奧氏體對疲憊使用壽命影響并不大。具體制造中45號鋼淬火后，一般不歷經(jīng)冷處理。 （2）傳動齒輪一般都不需冷處理。殘余奧氏體有益于其疲倦使用壽命的提升。 （3）對工具鋼，殘余奧氏體可提升抗沖擊性。針對切削刀具，殘余奧氏體減少強(qiáng)度使加工性受到影響。對鉆頭、銑刀等關(guān)鍵承擔(dān)扭曲應(yīng)力的專用工具，適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體是有益的。對工作壓力生產(chǎn)的模具鋼，特別是在沖針適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體是有利的。殘余奧氏體相對性于馬氏體而言，殘余奧氏體似海棉，可緩存沖擊性，提升延展性，提升表層觸碰疲勞強(qiáng)度，增加沖針使用期限。 （4）對測量儀器，殘余奧氏體不利確保規(guī)格精密度，務(wù)必用冷處理盡量地清除殘余奧氏體。 2. 殘余奧氏體影響各種因素 伴隨著鋁合金因素的提升 ，碳含量的提升，淬火正中間滯留或制冷速率遲緩，淬火溫度提升，都是會使殘余奧氏體提升。淬火時(shí)制冷終斷并等溫過程滯留，會使馬氏體最后變化量少，殘余奧氏體增加，這就是奧氏體的熱防老化。碳含量在過共析鋼點(diǎn)0.8上下，殘余奧氏體在25%下列，殘余應(yīng)力為壓應(yīng)力。零件滲碳后表層碳含量高，淬火后殘余奧氏體增加。 決策殘余奧氏體成分的首要要素分別是： （1）原料鋁合金因素的影響：Mn、Ni、Cr鋁合金元素使淬火后殘余奧氏體提升。 （2）原料碳成分提升，使殘余奧氏體提升。 （3）熱處理方法上，奧氏體化溫度提升，淬火溫度提升，淬火終止溫度提升，淬火制冷速率變?nèi)�，淬火正中間滯留，都是會使殘余奧氏體提升。在零件原材料明確的根基上，熱處理工藝適度減少淬火溫度，提升冷處理（持續(xù)淬火）等全是降低殘余奧氏體的合理對策。零件經(jīng)淬火冷處理回火后殘余奧氏體均≤10%，GCr1545號鋼一般在5%上下。
樣品材料的非晶、準(zhǔn)晶和晶體三者的結(jié)構(gòu)在XRD圖譜上并無嚴(yán)格明晰的分界。 在X射線衍射儀獲得的XRD圖譜上，如果樣品是較好的"晶態(tài)"物質(zhì)，圖譜的特征是有若干或許多個(gè)一般是彼此獨(dú)立的很窄的"尖峰"（其半高度處的2θ寬度在 0.1°~0.2°左右，這一寬度可以視為由實(shí)驗(yàn)條件決定的晶體衍射峰的"小寬度"）。如果這些"峰"明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小于 300nm，可以稱之為"微晶"。 晶體的X射線衍射理論中有一個(gè)Scherrer公式：可以根據(jù)譜線變寬的量估算晶粒在該衍射方向上的厚度。 非晶質(zhì)衍射圖的特征是：在整個(gè)掃描角度范圍內(nèi)（從2θ 1°~2°開始到幾十度）只觀察到被散射的X射線強(qiáng)度的平緩的變化，其間可能有一到幾個(gè)大值；開始處因?yàn)榻咏鄙涔馐鴱?qiáng)度較大，隨著角度的增加強(qiáng)度迅速下降，到高角度強(qiáng)度慢慢地趨向儀器的本底值。 從Scherrer公式的觀點(diǎn)看，這個(gè)現(xiàn)象可以視為由于晶粒極限地細(xì)小下去而導(dǎo)致晶體的衍射峰極大地寬化、相互重疊而模糊化的結(jié)果。晶粒細(xì)碎化的極限就是只剩下原子或離子這些粒子間的"近程有序"了，這就是我們所設(shè)想的"非晶質(zhì)"微觀結(jié)構(gòu)的場景。非晶質(zhì)衍射圖上的一個(gè)大值相對應(yīng)的是該非晶質(zhì)中一種常發(fā)生的粒子間距離。 介于這兩種典型之間而偏一些"非晶質(zhì)"的過渡情況便是"準(zhǔn)晶"態(tài)。
殘余應(yīng)力對工件有很大的危害，會使工件發(fā)生變形甚至是斷裂，而工件一旦發(fā)生變形就會對使用精度造成影響，所以消除殘余應(yīng)力顯得尤為重要。 縱觀全球相關(guān)領(lǐng)域，消除殘余應(yīng)力的方法大約有四種： 第一種是自然時(shí)效，通過自然放置消除殘余應(yīng)力，這種方法耗時(shí)過長，難以適應(yīng)現(xiàn)代科技及生產(chǎn)需要； 第二種是傳統(tǒng)的方法——熱時(shí)效法，把工件放進(jìn)熱時(shí)效爐中進(jìn)行熱處理，慢慢消除殘余應(yīng)力。但這種方法的缺點(diǎn)也非常的顯著，對要求非常嚴(yán)格的工件或者是大型工件都無法用這種方法處理，而且這種方法還帶來了大量的污染和能源消耗，隨著中國及世界范圍內(nèi)對環(huán)保的進(jìn)一步要求，熱時(shí)效爐的處理方式馬上面臨全面退出的境地。 第三種是利用亞共振來消除殘余應(yīng)力，這種方法雖然解決了熱時(shí)效的環(huán)保問題，但是使用起來相當(dāng)繁瑣。更令人遺憾的是這種方法只能消除23%的工件應(yīng)力，無法達(dá)到處理所有工件的目的。 第四種是振動時(shí)效消除殘余應(yīng)力，是通過機(jī)械組裝使之形成了一整套消除應(yīng)力設(shè)備，它可以使工件在短時(shí)間內(nèi)達(dá)到消除應(yīng)力的作用，覆蓋所有需要消除應(yīng)力的工件。用頻譜分析優(yōu)選五個(gè)頻率以多振型的處理方法達(dá)到消除工件應(yīng)力的目的，所有形狀大小的工件都可以使用這種設(shè)備完成，將激振器夾在工件上進(jìn)行振動就可以達(dá)到消除應(yīng)力的效果。 以上就是消除殘余應(yīng)力方法介紹，如果您有殘余應(yīng)力的分析需求或其他應(yīng)用問題，歡迎咨詢利曼中國。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。 STRESS-X的衍射單元安裝在6自由度機(jī)械臂上，可方便對各種形狀和尺寸的樣品進(jìn)行檢測，同時(shí)配有非接觸自動激光準(zhǔn)直系統(tǒng)提高定位精度，整個(gè)測試系統(tǒng)可封裝在艙體中或安裝在四輪合金推車上用于現(xiàn)場分析；EDGE的特點(diǎn)則為小巧便攜、不受電源線束縛，另可擴(kuò)展完成殘余奧氏體和相位檢測。兩款儀器均符合ASTM E915及EN 15305國際標(biāo)準(zhǔn)，
1. 降低殘留奧氏體對策 一般熱處理工藝淬火后開展馬氏體變化，與此同時(shí)難以避免還會發(fā)生殘留奧氏體。要清除或控制殘留奧氏體，關(guān)鍵有下列幾類方式 ： （1）提升冷處理。冷處理是淬火得持續(xù)其本質(zhì)是減少制冷終止溫度，使殘留奧氏體進(jìn)一步轉(zhuǎn)換為馬氏體。這在GCr15的柱塞偶件中普遍應(yīng)用，是促進(jìn)殘留奧氏體變化的有效的方式 。一般殘留奧氏體控制在10%之內(nèi)。 （2）用馬氏體淬火替代馬氏體淬火，即提升淬火終止溫度，一般在Ms點(diǎn)周邊等溫過程，使反應(yīng)轉(zhuǎn)化成金相組織和滲碳體產(chǎn)生的纖維狀下馬氏體的類均衡機(jī)構(gòu)，因不開展馬氏體變化，而降低殘留奧氏體。 （3）熱處理方法主要參數(shù)調(diào)節(jié)：①高碳鋼滲碳時(shí)控制碳勢，控制表層碳成分，控制氮碳化學(xué)物質(zhì)及滲碳體等級，進(jìn)而控制殘留奧氏體。②減少奧氏體化淬火溫度，淬火后馬上回火，也可降低殘留奧氏體的成分。③提升回火溫度。可讓鋼中殘留奧氏體變化為馬氏體或溶解，進(jìn)而降低殘留奧氏體。小于200℃回火，鋼中殘留奧氏體不溶解。歷經(jīng)200～300℃回火，鋼中殘留奧氏體逐漸轉(zhuǎn)化為下馬氏體。高過300℃回火，鋼中殘留奧氏體徹底溶解。在高速鋼560℃回火制冷時(shí)一部分殘留奧氏體產(chǎn)生馬氏體變化，提高硬度，降低殘留奧氏體。 （4）碳氮共滲時(shí)，氨氣及碳氮化合物造成 殘留奧氏體增加。選用滲碳+淬火加工工藝替代碳氮共滲淬火，歷經(jīng)冷處理后可使在500倍高倍放大鏡下人眼觀測不上，殘留奧氏體基本上低于10%或5%。 2. 生產(chǎn)制造應(yīng)用 在實(shí)際生產(chǎn)制造中，應(yīng)用于CB18、CPN2.2-0401挺圓柱體、滾軸軸套滲淬后殘留奧氏體的控制。根據(jù)控制氛圍，氨氣進(jìn)入量由40～80L/h,調(diào)節(jié)至20L/h；丙烷控制在200L/h，控制降低表層氮碳化學(xué)物質(zhì)及滲碳體。減少淬火溫度：由850℃調(diào)節(jié)至820～830℃，提升冷處理，回火溫度由180℃提升到200℃等一系列加工工藝主要參數(shù)調(diào)節(jié)對策，使結(jié)果大幅改進(jìn)，控制殘留奧氏體低于10%，做到技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
大米是我們?nèi)粘Ｉ钪凶畛Ｒ姷闹魇持饕Z食。隨著工業(yè)化、城市化的發(fā)展，城市及郊區(qū)的土壤成為重金屬的主要累積場所，土壤中的重金屬可通過“土壤－植物－人”的途徑進(jìn)入人體，對人體健康產(chǎn)生潛在威脅。如砷(As)、鎘(Cd)可引發(fā)人類癌癥，已引起社會廣泛關(guān)注�！禛B 2762 食品安全國家標(biāo)準(zhǔn) 食品中污染物限量》對大米中重金屬元素做出了嚴(yán)格的限量要求。 檢測手段包括ICP-MS、AAS、AFS等。其中， AFS、AAS一次只能測定一種元素，檢測多個(gè)元素多采用 ICP-OES或 ICP-MS法。但二者有著較為嚴(yán)重的基體、光譜及質(zhì)譜干擾。因此，找到一種可兼顧檢測效率、干擾小的檢測方法顯得尤為重要。 本文使用Horizon全反射熒光光譜儀，對大米標(biāo)樣中的K、Ca、Mn、Fe、Cu、Zn、As進(jìn)行檢測，通過常規(guī)微波消解及懸濁分散法兩種前處理方法對比，結(jié)果無明顯差異。
做XRD有什么用途，能看出其純度？還是能看出其中含有某種官能團(tuán)？ X射線照射到物質(zhì)上將產(chǎn)生散射。晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時(shí)光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。 絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。 X射線衍射（XRD）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)（如原子或離子及其基團(tuán)的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等）有力的方法。 XRD特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團(tuán)如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對強(qiáng)度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD還可以測定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構(gòu)）等等，應(yīng)用面十分普遍、廣泛。 目前XRD主要適用于無機(jī)物，對于有機(jī)物應(yīng)用相對較少。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。 可用于桌面的臺式衍射儀ERUOPE、性價(jià)比超高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強(qiáng)大的多功能高分辨率X射線衍射儀EXPLORER，均可用于職業(yè)衛(wèi)生中游離二氧化硅的檢測。
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